延邊 振動臺試驗費(fèi)用

振動試驗臺用途：
振動試驗臺適用于電子器件、機(jī)電產(chǎn)品、汽車零部件、儀器儀表、玩具等各行各業(yè)的研究、開發(fā)、制造，檢測產(chǎn)品在運(yùn)送、使用中產(chǎn)生的碰撞及振動，提早知道產(chǎn)品或產(chǎn)品部件的耐振動試驗。
振動試驗臺產(chǎn)品特點(diǎn)：
1．精密型設(shè)計制造、體積小、超靜音工作
2．機(jī)臺底座采用重型鋼材配減振膠墊，安裝方便，運(yùn)行平穩(wěn)，無需安裝地腳螺絲
3．進(jìn)口頻率控制器，數(shù)字化控制與顯示頻率，PID調(diào)節(jié)功能，使設(shè)備工作更為穩(wěn)定、可靠
4．控制參數(shù)實時同步顯示，無須人工干預(yù)。（各種控制條件，可于運(yùn)轉(zhuǎn)中監(jiān)視之）
5．內(nèi)嵌式振幅預(yù)測程序及調(diào)幅容易
6．四點(diǎn)同步激振，臺面振動均勻
7．無級調(diào)整振幅，定頻及掃頻操作功能適應(yīng)不同行業(yè)多種試驗要求
8．增加抗干擾電路,解決因強(qiáng)電磁場對控制電路干擾
9．外觀美觀，操作便捷，人性化控制

振動試驗臺技術(shù)參數(shù)：
1、頻率范圍：50HZ、1-600HZ、1-3000HZ、1-5000HZ
2、上下左右同一臺面臺體尺寸500×500×450:mm
上下左右前后同一個臺面臺體尺寸500×500×600:mm
3、振動波形：正弦波（半波/全波）
4、振動臺面尺寸500×500×10:mm
5、振幅范圍：0～4mm
6、大加速度：＜15g
7、承重量：75kg/60kg
8、時間設(shè)定范圍：1-65000S
9、運(yùn)行次數(shù)：1-65000次任意設(shè)定
10、頻率可顯示到0.01Hz、精密度0.1Hz
11、電源電壓：AC220V/50HZ、AC380V/50HZ

振動試驗臺特點(diǎn)
1、數(shù)字顯示振動頻率；
2、同步靜噪皮帶傳動，噪聲及低；
3、試件夾裝采用導(dǎo)軌式，操作方便，；
4、機(jī)臺底座采用重型槽鋼配減振膠墊，安裝方便，運(yùn)行平穩(wěn)；
5、回轉(zhuǎn)式振動（俗稱跑馬臺）符合及國際運(yùn)輸標(biāo)準(zhǔn)；

振動試驗臺系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)：
激振力：正弦：1960N（200kg.f）
頻率范圍：垂直臺：5Hz~4500Hz
額定加速度：980m/s2（100g）
額定速度：1.75m/s
額定位移：25mm（p-p）
大載荷：70kg
運(yùn)動部件有效質(zhì)量：垂直臺：2kg
電源：3相4線380VAC10%50Hz
消耗功率：5.5kVA
連續(xù)工作時間：8h
工作環(huán)境：溫度0~40℃
濕度90%RH（25℃）
保護(hù)功能：本系統(tǒng)具有12種自動保護(hù)聯(lián)鎖功能。
電源：AC380V10%50Hz7kVA
振動試驗臺是用于在實驗室內(nèi)模擬真實振動環(huán)境效應(yīng)的試驗設(shè)備，振動試驗是在振動臺上采用不同的輸入信號激勵樣品。振動試驗主要分為正弦和隨機(jī)振動，由于兩者的物理過程不同，在兩者之間沒有嚴(yán)格的等效關(guān)系，所以在選擇試驗方式時，切勿進(jìn)行正弦到隨機(jī)的嚴(yán)酷度等級轉(zhuǎn)換。
正弦振動試驗使用固定或變化的頻率和幅值的正弦信號，在每一瞬間時僅施加一個頻率，試驗條件包括頻率范圍或固定頻率、振幅和試驗持續(xù)時間。
真實環(huán)境中正弦振動很少一單一頻率的振動形式立出現(xiàn)。即使在旋轉(zhuǎn)的機(jī)械上直接測量加速度時也是這樣。如齒輪和軸承，實際存在的公差和間隙，通常導(dǎo)致在頻率上有微小的變化。旋轉(zhuǎn)機(jī)械的隨機(jī)特性也會發(fā)生某種形式的隨機(jī)振動。
正弦振動可以描述為確定性運(yùn)動，遵循確定的規(guī)律，完全可以從過去的狀態(tài)來確定未來任意時間的狀態(tài)。在進(jìn)行正弦掃頻試驗過程中，改方法通常用來確定出現(xiàn)失效的時刻，因為這個失效很可能是和特定頻率密切相關(guān)的，而用隨機(jī)振動試驗試驗方法這種相關(guān)效果不是很明顯。當(dāng)然，相對于隨機(jī)試驗方法，正弦試驗方法通常需要用更長的時間激發(fā)出失效，這是因為每次掃頻過程中，在每個共振點(diǎn)上只作用很短的時間。盡管在任一時刻只施加一個頻率，如果掃頻速率足夠慢，確實可以使得樣品的特定共振峰達(dá)到大。也可以用來發(fā)現(xiàn)潛在的破壞性共振點(diǎn)，尤其是在設(shè)計和研制試驗中。
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