集成電路hast老化試驗(yàn)箱型號(hào)HAST-35

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艾思荔集成電路hast老化試驗(yàn)箱具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過(guò)程中水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)，試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡(jiǎn)便。溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作精確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示。定時(shí)器：LED數(shù)字型定時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開始時(shí)以確保試驗(yàn)完全。

集成電路hast老化試驗(yàn)箱體結(jié)構(gòu)及安全裝置：

1、圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品，可預(yù)防試驗(yàn)中有滴水結(jié)露現(xiàn)象，可避免蒸汽過(guò)熱直接沖擊操作人員。  

2、安全程序自動(dòng)停機(jī)，自動(dòng)泄壓，自動(dòng)破真空，自動(dòng)給水，每次加水可持續(xù)運(yùn)行100小時(shí)(可根據(jù)客戶要求訂制，也可做成全自動(dòng)系統(tǒng))。  

3、采用溫度與壓力安全檢知及門禁自動(dòng)鎖定控制系統(tǒng)，圓型測(cè)試槽與安全門環(huán)扣結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，當(dāng)內(nèi)箱壓力越大時(shí)，反壓會(huì)迫使安全門與箱體更加緊密之結(jié)合，故內(nèi)箱壓力必須小于正常壓力時(shí)，測(cè)試門才能被打開，因此而保證了操作人員的安全。

4、真空系統(tǒng)保證實(shí)驗(yàn)中箱內(nèi)空氣的純凈度(實(shí)驗(yàn)前系統(tǒng)可將箱內(nèi)空氣抽出，并將其過(guò)濾為新空氣)  

集成電路hast老化試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：

1、型號(hào)hast-25、內(nèi)箱尺寸∮250×450D(mm)：

2、型號(hào)hast-35、內(nèi)箱尺寸∮350×500D(mm)：

3、溫度范圍：RT+10℃—132℃  

4、濕度范圍：100％R。H  

5、壓力范圍：0.0kg／㎝2～2.8kg／㎝2(相對(duì)壓力，鍋內(nèi)壓力)，對(duì)壓力＝1.0kg／㎝2＋0.0kg／㎝2～3.0kg／㎝2(安全壓力容量為4kg／㎝2＝1個(gè)大氣壓＋3kg／㎝2)  

6、溫度分布精度：±1.5℃  

7、溫度控制精度：±0.5℃  

8、溫度解析精度：0.1℃  

9、加壓時(shí)間：0.0kg／㎝2～2.0kg／㎝2約30分鐘  

10、內(nèi)箱材質(zhì)：采用SUS304耐寒耐熱不銹鋼板  

11、外箱材質(zhì)：采用鋼板，靜電噴塑處理。

集成電路hast老化試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)：  

1、微電腦＋PID＋SSR自動(dòng)演算控制飽和蒸汽溫度  

2、LED溫度顯示控制器  

3、精密壓力顯示表  

4、鉑金電阻溫度感應(yīng)器  

5、絕緣耐壓型溫度加溫電熱器  

6、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)磁性風(fēng)扇機(jī)構(gòu)，水蒸汽自然對(duì)流循環(huán)，可保證溫濕度分布的均勻穩(wěn)定性  

7、符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM、DIN、BS、IEC、E、UL、CNS、ISO、JIS、MIL等  

集成電路hast老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過(guò)程中水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)  

2、試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡(jiǎn)便。  

3、溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作精確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示。  

4、定時(shí)器：LED數(shù)字型定時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開始時(shí)以確保試驗(yàn)完全。  

5、精準(zhǔn)的壓力/溫度表隨時(shí)顯示鍋內(nèi)壓力與相對(duì)溫度。  

6、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動(dòng)排出未飽和蒸氣以達(dá)到佳蒸氣品質(zhì)。  

7、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長(zhǎng)。  

8、內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久耐用美觀不沾污。

集成電路hast老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品簡(jiǎn)介： 

    集成電路hast老化試驗(yàn)箱是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求，以便產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。