微電子hast老化試驗箱

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艾思荔微電子hast老化試驗箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST、現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC所標(biāo)準(zhǔn)化。 注意事項：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗)。

微電子hast老化試驗箱裝置：

1、鍋內(nèi)裝置：鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無法啟動。

2、閥：當(dāng)鍋內(nèi)壓力過大工作值自動排氣泄壓。

3、雙重過熱保護(hù)裝置：當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時，機(jī)器嗚叫警

4、報并自動切斷加熱電源。

5、門蓋保護(hù)：ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸。

微電子hast老化試驗箱試驗：

1.試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

2.用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分佈函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的塬因所進(jìn)行的試驗。

3.隨著半導(dǎo)體性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，採用了新的壓力試驗方法。

微電子hast老化試驗箱特點：

1、具有自動加水功能并且在試驗過程中水位過低時自動。

2、試驗過程自動運轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡便。

3、溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作試驗溫度之設(shè)定、控制及顯示。

4、計時器：LED數(shù)字型計時器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)後才開始計時以確保試驗。

5、的壓力／溫度表隨時顯示鍋內(nèi)壓力與相對溫度。

6、運轉(zhuǎn)時流水器自動排出未飽和蒸氣以達(dá)到佳蒸氣品質(zhì)。

7、一體成型矽膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

8、試驗箱內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久美觀不沾污。

微電子hast老化試驗箱簡介：

   微電子hast老化試驗箱艾思荔檢測儀器是模擬檢測設(shè)備的企業(yè)，生產(chǎn)歷史長、技術(shù)精。為國內(nèi)多家測試設(shè)備廠所配套使用,建廠三十余年,備受。