電源380V
型號ES-3
頻率范圍3-3500HZ
額定正弦推力3000N
包裝木箱
振動試驗(yàn)臺用途:
振動試驗(yàn)臺適用于電子器件、機(jī)電產(chǎn)品、汽車零部件、儀器儀表、玩具等各行各業(yè)的研究、開發(fā)、制造,檢測產(chǎn)品在運(yùn)送、使用中產(chǎn)生的碰撞及振動,提早知道產(chǎn)品或產(chǎn)品部件的耐振動試驗(yàn)。
振動試驗(yàn)臺特點(diǎn)
1、數(shù)字顯示振動頻率;
2、同步靜噪皮帶傳動,噪聲及低;
3、試件夾裝采用導(dǎo)軌式,操作方便,;
4、機(jī)臺底座采用重型槽鋼配減振膠墊,安裝方便,運(yùn)行平穩(wěn);
5、回轉(zhuǎn)式振動(俗稱跑馬臺)符合及國際運(yùn)輸標(biāo)準(zhǔn);
振動試驗(yàn)臺產(chǎn)品特點(diǎn):
1.精密型設(shè)計(jì)制造、體積小、超靜音工作
2.機(jī)臺底座采用重型鋼材配減振膠墊,安裝方便,運(yùn)行平穩(wěn),無需安裝地腳螺絲
3.進(jìn)口頻率控制器,數(shù)字化控制與顯示頻率,PID調(diào)節(jié)功能,使設(shè)備工作更為穩(wěn)定、可靠
4.控制參數(shù)實(shí)時同步顯示,無須人工干預(yù)。(各種控制條件,可于運(yùn)轉(zhuǎn)中監(jiān)視之)
5.內(nèi)嵌式振幅預(yù)測程序及調(diào)幅容易
6.四點(diǎn)同步激振,臺面振動均勻
7.無級調(diào)整振幅,定頻及掃頻操作功能適應(yīng)不同行業(yè)多種試驗(yàn)要求
8.增加抗干擾電路,解決因強(qiáng)電磁場對控制電路干擾
9.外觀美觀,操作便捷,人性化控制
振動試驗(yàn)臺系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo):
激振力:正弦:1960N(200kg.f)
頻率范圍:垂直臺:5Hz~4500Hz
額定加速度:980m/s2(100g)
額定速度:1.75m/s
額定位移:25mm(p-p)
大載荷:70kg
運(yùn)動部件有效質(zhì)量:垂直臺:2kg
電源:3相4線380VAC10%50Hz
消耗功率:5.5kVA
連續(xù)工作時間:8h
工作環(huán)境:溫度0~40℃
濕度90%RH(25℃)
保護(hù)功能:本系統(tǒng)具有12種自動保護(hù)聯(lián)鎖功能。
電源:AC380V10%50Hz7kVA
振動試驗(yàn)臺產(chǎn)品功能:
1.調(diào)頻功能:在頻率范圍內(nèi)任意設(shè)定頻率。
2.掃頻功能:(上限頻率/下限頻率/時間范圍)可任意設(shè)定。
3.可程式功能:任意調(diào)整1~15段每段可任意設(shè)定(頻率/時間)可循環(huán)。
4.對數(shù)功能:①下頻到上頻②上頻到下頻③下頻到上頻再到下頻--3種模式對數(shù)/可循環(huán)。
5.倍頻功能:任意調(diào)整1~15段成倍數(shù)增加,①低頻到高頻②高頻到低頻③低頻到高頻再到低頻/可循環(huán)。
6.顯示振幅加速度:如需看出振幅、加速度、大加速度、準(zhǔn)確數(shù)值需另購測量儀(另購)。
7.全功能電腦控制:485通訊接口如要連接電腦做控制、儲存、記錄、打印之功能需另購介面卡程式電腦(另購)。 注:定頻50HZ的無調(diào)頻、掃頻、可程式、倍頻、對數(shù)功能。
振動試驗(yàn)臺使用方法
1、將機(jī)臺置于平整之地面,防振膠墊應(yīng)落實(shí)而不會出現(xiàn)前后、左右晃動,將機(jī)臺電源接牢。機(jī)器電機(jī)為兩 相電機(jī),請與供電電源接牢;
2、打開機(jī)器電源開關(guān),將試驗(yàn)所需時間設(shè)定好:HMS依次為H小時、M分鐘、S秒;表盤上‘+、—’,依序 將數(shù)字1-9拔到所需檔;
3、調(diào)動高速旋扭相應(yīng)轉(zhuǎn)速在顯示表上顯示,目視機(jī)臺運(yùn)行轉(zhuǎn)正常,將轉(zhuǎn)速調(diào)低,關(guān)掉電源;
4、將試件置于工作臺面,移動活動圍欄將試件固定于臺面位;
5、打開機(jī)臺電源,重啟機(jī)臺,調(diào)整相應(yīng)轉(zhuǎn)速,待試驗(yàn)時間到達(dá)設(shè)定時間后,停機(jī)檢驗(yàn)試件;
6、如需按ISTA-IA國際運(yùn)輸標(biāo)準(zhǔn)做測試,則需用隨機(jī)附帶之標(biāo)配塊置于試件(被測包裝件)下部,當(dāng)機(jī)臺運(yùn)行速度達(dá)到300rpm時,用手將標(biāo)準(zhǔn)塊從試件一側(cè)順利地推過試件底部;
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